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講師大咖面對(duì)面,有問有大收獲多。(2)參照式場強(qiáng)儀
參照式場強(qiáng)儀探頭由置于薄絕緣板上的平板電極和接地保護(hù)電極組成。保護(hù)電極的寬度至少應(yīng)為平板電極邊長的6%,探頭的厚度不超過其邊長的3.5%。探頭與檢測器常常是分離的,兩者之間用同軸屏蔽電纜連接。
參照式場強(qiáng)儀常以“地”為參考電位。其工作原理與獨(dú)立式場強(qiáng)儀相仿??捎脕頊y量地平面處的場強(qiáng)。在非均勻電場中測量的是探頭表面的場強(qiáng)。
(3)光電式場強(qiáng)儀
光電式場強(qiáng)儀一般應(yīng)用介質(zhì)晶體探頭在電場中的普克爾(Pockels)效應(yīng)來確定電場強(qiáng)度。其探頭尺寸通常很小(2cm左右),探頭和檢測器之間無電氣連接,僅用光纖相連,故探頭的引入對(duì)被測電場的影響極小。
當(dāng)介質(zhì)晶體按一定方向放入電場時(shí),由于電場的作用,晶體對(duì)偏振光的折射率發(fā)生變化,這種變化的大小與電場強(qiáng)度成正比,即透射光?和入射光?之比為:?式中:?;?―光的波長;?―晶體的折射率;?―晶體內(nèi)的電場強(qiáng)度;?―晶體的厚度;?―光電系數(shù)。
光調(diào)制的大小反映了晶體內(nèi)部場強(qiáng)的數(shù)值,從而也間接測量了外部電場的場強(qiáng)。
獨(dú)立式場強(qiáng)儀和光電式場強(qiáng)儀不需要參考電位,可用來測量離地不同高度處的空間場強(qiáng)。
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